X熒光光譜儀的優(yōu)勢(shì)：
1、制樣簡(jiǎn)單：通常情況下是物理制樣。試樣經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)單的破碎、研磨成粉末壓片或熔融制成；
2、分析范圍廣：理論上從元素Be到92號(hào)元素鈾均可進(jìn)行分析；
3、測(cè)量范圍寬：從0.001%到均可進(jìn)行分析。

X熒光光譜儀優(yōu)點(diǎn)：
1、分析速度高。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘*可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素；
2、X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定；
3、非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好；
4、X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析；
5、分析精密度高；
6、制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

x熒光光譜儀1．分析原理：能量色散X射線熒光分析法
2．分析元素：K～U任意元素,鉛（Pb）、（Hg）、六價(jià)鉻（Cr6+）、
（PBB）和醚（PBDE）中的溴
3．工作條件：工作溫度：10-30℃相對(duì)濕度：≤70%
電源：AC220V±10%、50/60Hz
4．技術(shù)指標(biāo)新高靈敏度探測(cè)器（分辨率達(dá)149Ev），精密的放大電路，
提高Cd、Pb元素的靈度。
檢出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
樣品形狀：任意大小，任意不規(guī)則形狀
樣品類型：塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體
小樣品腔尺寸：300×300×100mm
大樣品腔尺寸：樣品尺寸不受限制
X射線管：材/Mo管電壓/5～50kV管電流/大1～1000μA
照射直徑：2、5、8mm
探測(cè)器：Si(PIN)半導(dǎo)體高靈敏度探測(cè)器
濾光片：八種新型濾光片自動(dòng)選擇
樣品定位：微動(dòng)載物平臺(tái)（選配）
樣品觀察：130萬(wàn)分辨率彩色CCD攝像機(jī)
微區(qū)分析：X光聚焦微區(qū)分析系統(tǒng)（選配）軟件
定量分析：理論Alpha

臺(tái)式x熒光光譜儀是研究物與蛋白質(zhì)相互作用的常用儀器。物與蛋白質(zhì)相互作用后可能引起物自身熒光光譜和蛋白質(zhì)自身熒光(內(nèi)源熒光)光譜以及同步熒光光譜的變化，如熒光強(qiáng)度和偏振度的改變出現(xiàn)等，這些均可以提供物與蛋白質(zhì)結(jié)合的信息。 臺(tái)式x熒光光譜儀對(duì)于一種未知發(fā)光性能的熒光粉來(lái)說(shuō)，測(cè)試發(fā)射譜時(shí)，通常利用氙燈的強(qiáng)254nm發(fā)射來(lái)激發(fā)樣品。這時(shí)激發(fā)單色器就從氙燈發(fā)射出來(lái)的復(fù)合光中分出254nm的紫外光。該紫外光照射到熒光粉上，有可能激發(fā)熒光粉使其發(fā)射某種顏色的光。熒光粉發(fā)射的混合波長(zhǎng)的光被發(fā)射單色器以單色光的形式一一鑒別釋放，同時(shí)利用PMT記錄相應(yīng)的強(qiáng)度。
臺(tái)式x熒光光譜儀技術(shù)已成功應(yīng)用于環(huán)境、食物鏈、動(dòng)植物、農(nóng)產(chǎn)品、人體組織細(xì)胞及、生物材料、組織細(xì)胞、試劑、動(dòng)植物、代謝產(chǎn)物中的無(wú)機(jī)元素測(cè)定。目前XRF分析們已普遍走出了單純進(jìn)行分析側(cè)試研究的范疇，廣泛開(kāi)展了分析數(shù)據(jù)與所包含信息的相關(guān)性研究，試圖揭示出分析結(jié)果與及環(huán)境變化等的內(nèi)在聯(lián)系，為診斷與預(yù)防、環(huán)境預(yù)測(cè)與治理等提供科學(xué)依據(jù)。
臺(tái)式x熒光光譜儀是一種波長(zhǎng)較短的電磁，通常是指能t范圍在0.1^-100keV的光子。臺(tái)式x熒光光譜儀與物質(zhì)的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X射線熒光光譜儀是由物質(zhì)中的組成元素產(chǎn)生的特征，通過(guò)側(cè)里和分析樣品產(chǎn)生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元家組成，得到物質(zhì)成分的定性和定量信息。
特征臺(tái)式x熒光光譜儀的產(chǎn)生與特性當(dāng)用高能電子束照射樣品時(shí)，人射高能電子被樣品中的電子減速，這種帶電拉子的負(fù)的加速度會(huì)產(chǎn)生寬帶的連續(xù)X射線譜，簡(jiǎn)稱為連續(xù)潛或韌致。另一方面，化學(xué)元素受到高能光子或粒子的照射，如內(nèi)層電子被激發(fā)，則當(dāng)外層電子躍遷時(shí)，就會(huì)放射出特征X射線。特征X射線是一種分離的不連續(xù)譜。如果激發(fā)光源為x射線，則受激產(chǎn)生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀產(chǎn)生的過(guò)程。

性能
具有MSBUS總線的智能電池、實(shí)時(shí)監(jiān)控電池、備用電池可直接查看電池剩余容量。用戶可自定義創(chuàng)建報(bào)告：包括公司標(biāo)志、公司地址、檢測(cè)結(jié)果、光譜譜圖及其他樣品信息（如產(chǎn)品描述、產(chǎn)地、批號(hào)等）。內(nèi)置DoubleBeam ?技術(shù)自動(dòng)感知儀器前方有無(wú)樣品，提高射線的安全性和防護(hù)等級(jí)。且自動(dòng)根據(jù)外部環(huán)境亮度調(diào)節(jié)顯示器亮度。可將設(shè)備聯(lián)入互聯(lián)網(wǎng)，可遠(yuǎn)程對(duì)儀器進(jìn)行設(shè)置及檢修。

原理和技術(shù)：手持式礦石元素分析儀主要基于光譜技術(shù)，其中常用的是光電子發(fā)射光譜（LIBS）和X射線熒光光譜（XRF）。LIBS技術(shù)通過(guò)激光脈沖激發(fā)樣品，使其產(chǎn)生等離子體，通過(guò)分析等離子體發(fā)射的光譜來(lái)確定元素成分。XRF技術(shù)則利用樣品受到X射線激發(fā)后產(chǎn)生的熒光來(lái)分析元素成分。這些技術(shù)具有非破壞性、快速、準(zhǔn)確的特點(diǎn)。

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