單波長X熒光光譜儀采用X射線熒光光譜(XRF)技術,創新性融合雙彎晶分光系統與波長色散檢測技術,通過雙曲面彎晶的二次聚焦增強效應,顯著提升了儀器對輕元素的檢測性能，檢出限可達0.16ppm,靈敏度較傳統單彎晶結構提升數倍以上。
天瑞儀器的EDX3300光譜分析儀采用X射線熒光分析技術，與傳統的X射線熒光技術相比，該技術使用了的雙曲面彎晶晶體，降低背景噪聲， 大幅提高信噪比，提高產品分析精度
采用“側照式”樣品將被從側方重直置入儀器內部。該創新設計可確保避免意外泄漏的任何樣品不接觸儀器中貴重部件，以方便清理和維護，避免重大損失。
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