X射線熒光光譜原理
X光管發射的X射線經原級晶體衍射聚焦后,產生單一的CrKa特征X射線,照射于樣品激發次級X射線,并經過次級晶體衍射后產生單一的ClKa特征X射線由探測器檢測。能有效分離硫和氯的特征X射線,提高探測器對氯元素特征X射線的檢測,減少高濃度硫元素的影響。
采用“側照式”樣品將被從側方重直置入儀器內部。該創新設計可確保避免意外泄漏的任何樣品不接觸儀器中貴重部件，以方便清理和維護，避免重大損失。
EDX3300可以快速準確定量分析液體、粉末等樣品中的硫、氯、硅、磷等輕元素，在輕 基體下檢出限可以低至 ppm 級別；針對食品中鋁、磷、鉀以及工業應用中輕元素有出色的分析性能。
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