【SIMS測試】
服務背景：半導體行業需監控晶圓中ppb級摻雜元素分布。
檢測重要性：揭示離子注入濃度剖面，影響晶體管閾值電壓。
檢測周期：7-10個工作日（含深度剖析）。
廣電計量能力：
1、賽默飛二次離子質譜，深度分辨率<5nm；
2、檢測硅片中硼元素梯度分布（檢出限0.1ppb）；
廣電計量擁有的化學分析檢測設備和的人才隊伍。能力范圍覆蓋提供有毒有害物質檢測（RoHS、REACH、POPs、VOC，消耗臭氧層物質等）、材料成分性能分析、可靠性壽命預計、食品接觸材料等多領域測試、評估、認證及培訓服務。
【XRD檢測】
背景：1912年勞厄發現晶體X射線衍射現象，1953年沃森-克里克據此解析DNA結構。
重要性：材料相組成決定力學性能與化學穩定性，是質量控制必檢項目。
產品類型：合金相分析、藥品晶型、礦物組成。
檢測標準：JCPDS PDF卡片庫、GB/T 23413（納米材料）。
【氣體定性定量分析測試】
氣相色譜儀是一種多組份混合物的分離、分析工具，它是以氣體為流動相，采用沖洗法的柱色譜技術，當多組份的分析物質進入到色譜柱時，由于各組分在色譜 柱中的氣相和固定液液相間的分配系數不同，因此各組份在色譜柱的運行速度也就不同，經過一定的柱長后，順序離開色譜柱進入檢測器，經檢測后轉換為電信號送 至數據處理工作站，從而完成了對被測物質的定性定量分析。
服務背景：動力電池熱失控釋放氣體成分決定安全防護設計。
檢測重要性：識別HF、CO等劇毒氣體生成量。
檢測周期：3個工作日（常規氣體）/7個工作日（腐蝕性氣體）。
廣電計量能力：檢測項目同樣豐富，包括成分分析、對比分析、材料熱分析和定性定量分析等。此外，還有純度、過氧化物、總烴發熱量、水分、沃泊指數、成分含量、密度、未知氣體和硫化物等常規檢測項目。
