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機(jī)械式測厚儀是一種接觸式測厚設(shè)備，多采用傳感器，因?yàn)樗臏y試只和微小位移有關(guān)，所以對試樣沒有選擇性。機(jī)械式測厚儀的測試精度主要取決于位移傳感器的精度，環(huán)境溫度和風(fēng)速會影響傳感器的精度，因此在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境內(nèi)使用。
臺式的熒光X射線膜厚測試儀，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，,在通過計(jì)算二次熒光的能量來計(jì)算厚度值。
采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可測量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類任務(wù)還是采用磁性原理測量較為合適 。
X射線的能量穿過金屬鍍層的同時(shí)，金屬元素其電子會反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過這樣的原理，我們設(shè)計(jì)出：膜厚測試儀也可稱為膜厚測量儀，又稱金屬涂鍍層厚度測量儀，其不同之處為其即是薄膜厚度測試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則，故市場上普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測厚儀。
X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。可視光線的波長為0.000001 m （1μm）左右。
對某物質(zhì)進(jìn)行X射線照射時(shí),可以觀測到主要以下3種X射線。
（1） 螢光X射線
（2） 散亂X射線
（3） 透過X射線
的產(chǎn)品是利用螢光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和螢光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片。另外也用于機(jī)場的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類 。
測厚儀可以用來在線測 量軋制后的板帶材厚度，并以電訊號的形式輸出。該電訊號輸給顯示器和自動厚度控制系統(tǒng)，以實(shí)現(xiàn)對板帶厚度的自動厚度控制（AGC）。 目前常見的測厚儀有γ射線、β射 線、x射線及同位素射線等四種，其安放位置均在板帶軋機(jī)的出口或入 口側(cè)。設(shè)計(jì)、安裝測厚儀時(shí)要在可能的條件下盡量靠近工作輥，目的是降低板厚的滯后調(diào)整時(shí)間。
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