礦石成分分析儀自動進樣快速分析儀X熒光分析儀

X熒光光譜儀優點： 1、分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘*可以測完樣品中的全部待測元素； 2、X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內也

2025年08月26日 10:20:25

便攜礦石分析儀機械臂自動測試X射線熒光光譜分析儀

X熒光光譜儀的優勢： 1、制樣簡單：通常情況下是物理制樣。試樣經過簡單的破碎、研磨成粉末壓片或熔融制成； 2、分析范圍廣：理論上從元素Be到92號元素鈾均可進行分析； 3、測量范圍寬：從0.001%到均可進行分析。X熒光光譜儀根據有手持和臺式兩種，所采用的都

2025年08月26日 10:20:24

煤灰成分分析儀機械臂自動測試X射線熒光光譜儀

天瑞儀器x熒光光譜儀合格率，天瑞儀器x熒光光譜儀檢測重復性好，天瑞儀器x熒光光譜儀用途原理是將測樣品被x射線激發產生熒光，每種元素具有特定的熒光能量值。半導體探測技術可以檢測到熒光值，結合現代計算機技術，通過復雜的數學函數，算出待測物品的元素含

2025年08月26日 10:20:23

鍍鉻膜厚儀測厚儀EDX800A

Thick 8000 鍍層測厚儀是針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器。主要應用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。 2、性能優勢 精密的三維移動平臺 的樣品觀測系統 的圖像識別 輕松實現深槽樣

2025年08月26日 10:20:23

X熒光膜厚儀快速鍍層測厚儀天瑞儀器

X射線測厚儀 X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，已達到要求的軋制厚度。 應

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銀層膜厚儀上照式鍍層測厚儀EDX800A

X射線測厚儀使用而實用的正比計數盒和電制冷探測器，以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計，使儀器操作更人性化、更方便。 2、性能優勢 長效穩定X銅光管 半導體硅片電制冷系統，摒棄液氮制冷 采用天

2025年08月26日 10:20:22