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不同類型的測(cè)厚儀具有不同的工作原理。以超聲波測(cè)厚儀為例，其工作原理簡(jiǎn)單。當(dāng)超聲波陣列發(fā)射器產(chǎn)生超聲波脈沖后，超聲波會(huì)在介質(zhì)內(nèi)傳播，遇到不同介質(zhì)的界面時(shí)，會(huì)部分反射回來(lái)。測(cè)厚儀通過(guò)接收返回的反射波，結(jié)合聲速計(jì)算出材料的厚度。
熒光測(cè)厚儀的工作原理基于熒光現(xiàn)象。當(dāng)探測(cè)器照射到被測(cè)材料表面時(shí)，材料中的原子吸收能量并發(fā)出特定波長(zhǎng)的熒光。熒光的強(qiáng)度與材料的厚度有直接關(guān)系。通過(guò)分析熒光信號(hào)強(qiáng)度，儀器可以計(jì)算出材料的厚度。
基本組成
熒光測(cè)厚儀通常由以下幾個(gè)部分組成：
- 光源：產(chǎn)生激發(fā)光，一般為X射線或特定波長(zhǎng)的激光。
- 光譜分析儀：用于分離和檢測(cè)熒光信號(hào)。
- 處理單元：對(duì)信號(hào)進(jìn)行處理，計(jì)算厚度。
測(cè)量過(guò)程
測(cè)量過(guò)程通常包括以下步驟：
1. 樣品準(zhǔn)備：確保待測(cè)表面清潔，無(wú)污垢或覆蓋物。
2. 激發(fā)測(cè)量：將熒光測(cè)厚儀的探頭與樣品表面接觸，激活光源。
3. 數(shù)據(jù)采集：光譜分析儀捕獲熒光信號(hào)，并傳輸至處理單元。
4. 厚度計(jì)算：處理單元根據(jù)熒光強(qiáng)度和預(yù)設(shè)參數(shù)計(jì)算出樣品的厚度。
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