被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學的知識，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運行。內層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，成為電子，這時原子被激發了，處于激發態。此時，其他的外層電子便會填補這一空位，即所謂的躍遷，同時以發出X射線的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級結構都是特定的，它被激發后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的，稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量，便可以確定相應元素的存在，而特征X射線的強弱（或者說X射線光子的多少）則代表該元素的含量或厚度。
鍍層測厚儀可用于連接器、汽車配件、線路板、半導體等行業。根據鍍層測厚儀技術分類，測厚儀產品包含：XRF鍍層測厚儀、電解式鍍層測厚儀、渦流鍍層測厚儀、磁感應鍍層測厚儀等多種鍍層測厚儀產品。根據鍍層測厚儀的外形分類，測厚儀包含：手持式鍍層測厚儀、臺鍍層式測厚儀。
鍍層測厚儀它采用較新X射線熒光技術，具有精度高、示值穩定、功耗低、分辨率高、操作界面人性化等特點。其新增加的功能包括：成分分析，FP測試方法等，使儀器更加適合工業現場的工作需求，給客戶提供了更多的便利。測試的數據不容易受到干擾，并且優良的精度、即使溫度變化了也不會影響測量。了重復性。
