公司從事光譜、色譜、質譜等分析測試儀器及其軟件的研發、生產和銷售。 主要涉及儀器:ROHS檢測儀,ROHS2.0檢測儀,氣相色譜質譜聯用儀,液相色譜質譜聯用儀,波長色散X熒光光譜儀,電感耦合等離子體光譜儀,鄰苯檢測儀,多溴聯苯和多溴聯苯醚檢測儀,金屬合金檢測儀,玩具安全檢測儀,REACH檢測儀器,PAHS)多環芳香烴檢測儀器,雙酚A檢測儀,X熒光光譜儀,光電直讀光譜儀,電鍍層測厚儀,手持合金光譜儀。
工作原理:
根據熒光譜線元素能量位置以及其強度確定鍍層的組成以及厚度。
用X熒光光譜儀測試金屬鍍層,測試范圍廣,并且細微的面積以及超薄的鍍層都可以測試。
綜上所述,對于金屬電鍍鍍層的膜厚測試,X射線熒光是快速無損檢測電鍍層膜厚。
X射線或粒子射線經物質照射后,由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態
此物質必需將多余的能量釋放出來,而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。
熒光X射線鍍層厚度測量儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度
來進行鍍層厚度的測量及分析.
X射線熒光測厚儀是一種、非接觸式的材料厚度測量儀器。它利用X射線激發待測材料中的原子,使其產生熒光,通過測量熒光X射線的能量和強度,可以地測定材料的厚度。本使用說明將指導您正確操作X射線熒光測厚儀,以確保測量結果的準確性和可靠性。