4156B 安捷倫半導(dǎo)體參數(shù)分析儀

4156B 是安捷倫的半導(dǎo)體參數(shù)分析儀。半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是用于各種測量功能的多合一工具。半導(dǎo)體參數(shù)分析儀可以測量和分析多種電子設(shè)備、材料、有源或無源元件、半導(dǎo)體或任何其他類型的電子設(shè)備的電氣特性。工程師使用這臺測試設(shè)備來監(jiān)測不同類型設(shè)備中的電流和電壓響應(yīng)。附加的功能：

高分辨率/準(zhǔn)確度和寬范圍。I：1 fA 至 1 A（20 fA 偏移精度），V：1μV 至 200 V

采用直流或脈沖模式的全自動 IV 掃描測量，可擴(kuò)展至 6 個 SMU

同步應(yīng)力/測量功能，兩個高壓脈沖發(fā)生器單元 (±40 V)

時域測量：60μs – 可變間隔，多 10,001 個點

易于使用：類似于曲線跟蹤器的旋鈕掃描，自動分析功能

自動化：內(nèi)置 HP Instrument BASIC、觸發(fā) I/O 功能

設(shè)置測量和/或壓力條件

控制測量和/或壓力執(zhí)行

執(zhí)行算術(shù)計算

在 LCD 顯示屏上顯示測量和計算結(jié)果

執(zhí)行圖形分析

存儲和調(diào)用測量設(shè)置，以及測量和圖形顯示數(shù)據(jù)

轉(zhuǎn)儲到打印機(jī)或繪圖儀以進(jìn)行硬拷貝輸出

使用內(nèi)置的 HP Instrument BASIC 執(zhí)行測量和分析

自檢、自動校準(zhǔn)

Agilent HP 4156B 是下一代精密半導(dǎo)體參數(shù)分析儀。您將獲得好的數(shù)字掃描參數(shù)分析儀、可靠性測試儀、功能強(qiáng)大的故障分析工具和自動進(jìn)貨檢測站，所有這些都集成在一臺儀器中。

這個新系列經(jīng)過明確設(shè)計，旨在為評估您的亞微米幾何器件提供的精度和功能。使用一臺靈活的儀器，您可以從材料評估和器件表征一直到終封裝部件檢查和現(xiàn)場故障分析，提高您的半導(dǎo)體質(zhì)量。

Agilent HP 4156B 提供四個內(nèi)置電源/監(jiān)控器單元 (SMU)、兩個電壓源單元 (VSU) 和兩個電壓監(jiān)控器單元 (VMU)。Agilent HP 4156B 將電流分辨率擴(kuò)展至 1 fA，準(zhǔn)確度擴(kuò)展至 20 fA。HP 4156B 在每個 SMU 上使用全開爾文遙感。

您可以隨時添加配備 0V/1.6 A 接地裝置的 Agilent HP 4150 1B SMU 和脈沖發(fā)生器擴(kuò)展器。擴(kuò)展器接受兩個 10 0 mA/100 VSMU 或一個 1A/200V SMU，以及兩個特別同步的 40V/200 mA/1 μs 脈沖發(fā)生器。

設(shè)置和測量

Agilent HP 4156B 可以使用許多測量單元（包括 Agilent HP 41501B 中的單元）執(zhí)行階梯和脈沖掃描測量以及采樣（時域）測量，而無需更改連接。此外，您可以輕松地執(zhí)行應(yīng)力測量循環(huán)測試以進(jìn)行可靠性評估，例如熱載流子注入和閃存 EEPROM 測試。

設(shè)置和測量是通過設(shè)置頁面并從前面板按鍵、鍵盤或 GPIB（SCPI 命令）填寫空白來進(jìn)行的。您還可以使用類似于曲線跟蹤器操作的旋鈕掃描功能即時測量和查找設(shè)置條件。

顯示和分析

測量和分析結(jié)果顯示在彩色液晶顯示屏上，您可以將四個圖形存儲器中存儲的圖形疊加起來進(jìn)行比較。許多強(qiáng)大的圖形分析工具可以輕松分析和提取許多參數(shù)，例如 hFE 和 Vth。

一旦找到參數(shù)提取條件，就可以使用自動分析功能自動獲取參數(shù)。

輸出和存儲

設(shè)置、測量和分析數(shù)據(jù)可以通過 GPIB、并行或網(wǎng)絡(luò)接口 10 Base-TLAN 輸出到彩色繪圖儀和打印機(jī)。您還可以通過網(wǎng)絡(luò)將數(shù)據(jù)以 MS-DOS 或 LIF 格式保存到磁盤或 3.5 英寸磁盤上。圖形（HP-GL、PCL 或 TIF）輸出文件允許您將圖形傳輸?shù)阶烂娉霭孳浖?/p>

重復(fù)和自動化測試

HP 4156B 中內(nèi)置的 Agilent HP Instrument BASIC 控制器可以使用外部儀器構(gòu)建自動測量系統(tǒng)，而無需控制器。Agilent HP 4156B 可以通過多功能觸發(fā) I/O 功能與外部儀器同步