由于高濃度的瓊脂糖濃度會影響部分活體樣本的發(fā)育和狀態(tài)，瓊脂糖濃度太低又會影響樣品的穩(wěn)定性，此時，我們可以選擇將樣品圍封在FEP管中。
適合樣品：折射率和FEP、瓊脂糖相似的樣品，如斑馬魚、果蠅、線蟲、擬南介等。
樣品大小：平臺配有不同規(guī)格的FEP管，具體圍封方式類似于包埋方式。
圍封樣品模式圖

掃描電鏡可以采集多種不同類型的信號用于成像和分析，其中二次電子(SE)和背散射電子(BSE)信號是基本也是常見的兩種信號類型。
不同廠家和型號的電鏡在采集SE，BSE信號時所用的探測器都具有各自特的技術，但旁置式二次電子探測器和極靴下背散射電子探測器在架構和工作原理方面相對固定，應用也很廣泛，因此本文只會對旁置式二次電子探測器和極靴下背散射電子探測器進行介紹。

指出，復雜氧化物、復雜夾雜物、復雜化合物中用“復雜”來形容D類非金屬夾雜物不科學，“復雜”常被用來形容社會科學和人類生活的難易程度，很少用在術語的描述，用他形容這種D類非金屬夾雜物的復雜程度即抽象又不確切，不能給出形貌和數(shù)據(jù)的概念；第二，叫復合夾雜物也值得商榷，“復合”是一種攙和的意思，復合夾雜物是一種混合物的概念，混合物帶有機械混合之意，混合物內(nèi)各組元的分布無規(guī)律；第三，叫復雜化合物也不妥，化合物是純凈物，由不同種元素組成的純凈物叫做化合物，并可以用一種化學式表示，而混合物則不是，也沒有化學式。

蔡司解決方案在增材制造領域的應用范圍覆蓋粉末和材料分析，所使用的設備包括光學顯微鏡、掃描電鏡、X射線技術。
使用光學顯微鏡來測試金屬粉末的粒徑分布
使用SEM掃描電鏡對3D打印金屬粉末的球形度和實心性進行分析
使用CT對粉末顆粒的寬高比和粒徑進行分析
對于內(nèi)部缺陷，蔡司的解決方案也能輕松檢測，比如微裂紋、分層、疲勞裂紋、盈利、孔隙率、粉末殘留物和氣孔等。

掃描電子顯微鏡是利用材料表面微區(qū)的特征（如形貌、原子序數(shù)、化學成分、或晶體結構等）的差異，在電子束作用下通過試樣不同區(qū)域產(chǎn)生不同的亮度差異，從而獲得具有一定襯度的圖像。成像信號是二次電子、背散射電子或吸收電子，其中二次電子是主要的成像信號[2]。圖3為其成像原理圖，高能電子束轟擊樣品表面，激發(fā)出樣品表面的各種物理信號，再利用不同的信號探測器接受物理信號轉換成圖像信息。

掃描電鏡是一種多功能的儀器、具有很多的性能、是用途為廣泛的一種儀器．它可以進行如下基本分析：?
1、觀察納米材料
：
其具有很高的分辨率，可以觀察組成材料的顆粒或微晶尺寸在0.1-100nm范圍內(nèi)，在保持表面潔凈的條件下加壓成型而得到的固體材料。
2、材料斷口的分析：
其景深大，圖象富立體感，具有三維形態(tài)，能夠從斷口形貌呈現(xiàn)材料斷裂的本質(zhì)，在材料斷裂原因的分析、事故原因的分析以及工藝合理性的判定等方面是一個強有力的手段。?
3、直接觀察大試樣的原始表面：
它能夠直接觀察直徑100mm，高50mm，或更大尺寸的試樣，對試樣的形狀沒有任何限制，粗糙表面也能觀察，這便免除了制備樣品的麻煩，而且能真實觀察試樣本身物質(zhì)成分不同的襯度（背散射電子象）。
4、觀察厚試樣：
其在觀察厚試樣時，能得到高的分辨率和真實的形貌。
5、觀察試樣的各個區(qū)域的細節(jié)：
試樣在樣品室中可動的范圍非常大，可以在三度空間內(nèi)有6個自由度運動（即三度空間平移、三度空間旋轉），這對觀察不規(guī)則形狀試樣的各個區(qū)域帶來的方便。
6、在大視場、低放大倍數(shù)下觀察樣品，用掃描電鏡觀察試樣的視場大：
大視場、低倍數(shù)觀察樣品的形貌對有些領域是很必要的，如刑事偵察和考古。?
7、進行從高倍到低倍的連續(xù)觀察：
掃描電鏡的放大倍數(shù)范圍很寬（從5到20萬倍連續(xù)可調(diào)），且一次聚焦好后即可從高倍到低倍、從低倍到高倍連續(xù)觀察，不用重新聚焦，這對進行分析特別方便。?
8、觀察生物試樣：
由于電子照射面發(fā)生試樣的損傷和污染程度很小，這一點對觀察一些生物試樣特別重要。?
9、進行動態(tài)觀察：
如果在樣品室內(nèi)裝有加熱、冷卻、彎曲、拉伸和離子刻蝕等附件，則可以觀察相變、斷烈等動態(tài)的變化過程。?
10、從試樣表面形貌獲得多方面資料：
因為掃描電子象不是同時記錄的，它是分解為近百萬個逐次依此記錄構成的。使得掃描電鏡除了觀察表面形貌外還能進行成分和元素的分析，以及通過電子通道花樣進行結晶學分析，選區(qū)尺寸可以從10μm到3μm。?
由于掃描電鏡具有上述特點和功能，所以越來越受到科研人員的重視，用途日益廣泛。現(xiàn)在掃描電鏡已廣泛用于材料科學（金屬材料、非金屬材料、納米材料）、冶金、生物學、醫(yī)學、半導體材料與器件、地質(zhì)勘探、病蟲害的防治、災害（火災、失效分析）鑒定、刑事偵察、寶石鑒定、工業(yè)生產(chǎn)中的產(chǎn)品質(zhì)量鑒定及生產(chǎn)工藝控制等。
設備廠家
德國蔡司、日本電子、日立、FEI等
測試機構
各大高校、科研院所等
疑難解答
1、樣品導電性不好的話，對成像會有什么影響？
樣品導電性不好會產(chǎn)生放電現(xiàn)象（也有人叫荷電現(xiàn)象）。像會有很亮很亮地方出現(xiàn)。解決辦法：減低加速電壓，用BSE探頭，或者低真空[A10]?。
2、加高壓及關高壓后放氣各有什么主意事項呢?
加高壓般要達到額定真空，否則氣體電離度大、損傷電子槍，但是電鏡軟件一般都已經(jīng)設置好，不到工作真空，根本加不上去高壓，所以只要能夠加高壓，也無其他特別的問題;做完電鏡關閉高壓，等30秒以上，待燈絲冷卻后再放氣為宜，主要也是為了保護電子槍。
3、SEM升樣品臺有什么主意事項呢?
樣品臺有它的額定移動距離，包括平面方向和上下方向，平面方向移動到極會有報警提示，看到提示往回移動即可。高度方向也如此，但是要注意向上移動時，要緩慢，要防止堅硬的試樣撞擊上方的探測器和極靴，損壞設備