x熒光光譜儀介紹
x熒光光譜儀樣品種類樣品狀態一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。
（1）固體塊狀樣品包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等，其中金屬材料占了很大的比例。
（2）粉末樣品包括各種礦產品，水泥及其原材料，金屬冶煉的原材料和副產品如鐵礦石、煤、爐渣等；還有巖石土壤等。
（3）液體樣品油類產品、水質樣品以及通過化學方法將固體轉換成的溶液等。

x熒光光譜儀
1．分析原理：能量色散X射線熒光分析法
2．分析元素：K～U任意元素,鉛（Pb）、汞（Hg）、六價鉻（Cr6+）、
（PBB）和醚（PBDE）中的溴
3．工作條件：工作溫度：10-30℃相對濕度：≤70%
電源：AC220V±10%、50/60Hz
4．技術指標新高靈敏度探測器（分辨率達149Ev），精密的放大電路，
提高Cd、Pb元素的靈度。
檢出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
樣品形狀：任意大小，任意不規則形狀
樣品類型：塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體
小樣品腔尺寸：300×300×100mm
大樣品腔尺寸：樣品尺寸不受限制
X射線管：靶材/Mo管電壓/5～50kV管電流/大1～1000μA
照射直徑：2、5、8mm
探測器：Si(PIN)半導體高靈敏度探測器
濾光片：八種新型濾光片自動選擇
樣品定位：微動載物平臺（選配）
樣品觀察：130萬分辨率彩色CCD攝像機
微區分析：X光聚焦微區分析系統（選配）軟件
定量分析：理論Alpha

快速分析：手持式礦石元素分析儀具有快速分析的能力，通常只需幾秒鐘到幾分鐘的時間就可以完成一次分析。這對于礦石勘探和開采過程中的實時監測和決策具有重要意義。