非金屬礦石分析儀是一種用于分析非金屬礦石樣品中元素和化學(xué)組成的儀器設(shè)備。它主要通過光譜分析、電化學(xué)分析、熒光分析、質(zhì)譜分析等技術(shù)手段，對礦石樣品中的元素種類和含量進(jìn)行定量或定性分析。 非金屬礦石分析儀通常包括樣品制備設(shè)備、光譜儀、電化學(xué)分析儀、質(zhì)譜儀等關(guān)鍵部件。使用時，將礦石樣品進(jìn)行研磨、破碎和粉末化處理，然后將樣品放入儀器中進(jìn)行分析。根據(jù)不同的分析要求，可以選擇不同的分析技術(shù)和儀器。

以下是一些常見的非金屬礦石檢測設(shè)備：
X 射線熒光光譜儀（XRF）：
工作原理：當(dāng) X 射線照射到礦石樣品時，會激發(fā)樣品中元素原子的內(nèi)層電子，使其躍遷至高能級。當(dāng)這些高能級電子回落到低能級時，會釋放出具有特定能量的特征 X 射線。探測器捕獲這些特征 X 射線并將其轉(zhuǎn)換成電信號，數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)通過分析電信號得到礦石樣品中各種元素的含量信息。
特點：可快速同時分析多種元素，從鈉（Na）到鈾（U）的元素范圍均可檢測，適用于各種形態(tài)的樣品，包括粉末、固體和液體，且無損檢測，不會對樣品造成損害。例如，天瑞儀器的 EDX 4500H 型 X 熒光光譜儀，具有數(shù)字多道技術(shù)，測試速度快、精度高，能有效分析非金屬礦石中的多種元素。
應(yīng)用：廣泛應(yīng)用于礦產(chǎn)勘探、礦石品位分析、選礦過程控制以及環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域，可確定礦石的成分和品位，幫助指導(dǎo)開采和加工過程。

紅外光譜儀：
工作原理：利用物質(zhì)分子對紅外光的吸收特性進(jìn)行分析。不同的分子結(jié)構(gòu)會對特定波長的紅外光產(chǎn)生吸收，通過測量樣品對紅外光的吸收光譜，可以獲得分子結(jié)構(gòu)的信息，進(jìn)而識別礦石中的礦物成分。
特點：能提供豐富的分子結(jié)構(gòu)信息，可用于定性分析非金屬礦石中的有機物、碳酸鹽、硫酸鹽等礦物成分，操作相對簡便，分析速度較快。
應(yīng)用：常用于非金屬礦石中黏土礦物、有機質(zhì)等成分的分析，在陶瓷原料、石墨礦、高嶺土等礦產(chǎn)的檢測中應(yīng)用較多。