微粒的大小對導電性的影響，從上述情況來看，只是一種相對的關系。由于受加工條件和絲網印刷方式的影響，既要滿足微粒順利通過絲網的網孔，又要符合銀微粒加工的條件，一般粒度能控制在3～5μm 已是很好，這樣的粒度僅相當于250目普通絲網網徑的1/10～1/5，能使導電微粒順利通過網孔，密集地沉積在承印物上，構成飽滿的導電圖形。

金屬銀的微粒是導電銀漿的主要成份，薄膜開關的導電特性主要是靠它來體現。金屬銀在漿料中的含量直接與導電性能有關。從某種意義上講，銀的含量高，對提高它的導電性是有益的，但當它的含量超過臨界體積濃度時，其導電性并不能提高。一般含銀量在80～90%(重量比)時，導電量已達高值，當含量繼續增加，電性不再提高，電阻值呈上升趨勢；當含量低于60%時，電阻的變化不穩定。在具體應用中，銀漿中銀微粒含量既要考慮到穩定的阻值，還要受固化特性、粘接強度、經濟性等因素制約，如銀微粒含量過高，被連結樹脂所裹覆的幾率低，固化成膜后銀導體的粘接力下降，有銀粒脫落的危險。故此，銀漿中的銀的含量一般在60～70% 是適宜的

銀微粒的大小與銀漿的導電性能有關。在相同的體積下，微粒大，微粒間的接觸幾率偏低，并留有較大的空間，被非導體的樹脂所占據，從而對導體微粒形成阻隔，導電性能下降。反之，細小微粒的接觸幾率提高，導電性能得到改善。微粒的大小對導電性的影響，從上述情況來看，只是一種相對的關系。由于受加工條件和絲網印刷
方式的影響，既要滿足微粒順利通過絲網的網孔，又要符合銀微粒加工的條件，一般粒度能控制在3～5μm 已是很好，這樣的粒度僅相當于250目普通絲網網徑的1/10～1/5，能使導電微粒順利通過網孔，密集地沉積在承印物上，構成飽滿的導電圖形

導電銀漿中的助劑主要是指導電銀漿的分散劑、流平劑、金屬微粒的防氧劑、穩定劑等。助劑的加入會對導電性能產生不良的影響，只有在權衡利弊的情況下適宜地、選擇性地加入
導電銀漿按燒結溫度不同，分為高溫銀漿，中溫銀漿和低溫銀漿。其中高中溫燒結型銀漿主要用在太陽能電池，壓電陶瓷等方面。

談銀的存在分類及其檢測，白銀主要主要存在于銀礦石、銀精礦、粗銀和純銀產品中。其含量和檢測標準都有所不同，要視其具體情況而定。
1）粗銀
　　粗銀主要指銀含量為30%～99.9%的礦銀、冶煉初級銀產品以及回收銀。由于粗銀所包含的范圍比較廣泛，導致了該產品品種的多樣性和復雜性。粗銀除了那些成分比較單一均勻和已知品質的回收銀產品可直接利用之外，其他的通常需要通過提煉、濃集成相應有利用價值的金屬元素之后才能利用。
　　粗銀中的礦銀、冶煉初級銀、回收銀這3個主要組成部分所含成分具有相當的復雜性，除了與銀共存的多種貴金屬成分以外，還含有大量的有回收價值的金屬、非金屬、化合物等物質。另外，由于其品質的跨度也挺大，既有銀的濃集物、貨幣銀等，又有品質相對較低的各類礦銀和工業中間產品等。
2）銀礦石
　　銀在自然界的含量是很低的，在地殼中的平均含量為1×10-5%，按地殼中元素的分布情況仍屬微量元素，僅比金平均高約為20～30倍。銀礦資源為立銀礦和伴生銀礦。銀的礦物主要以硫化物的形式存在。銀的工業礦物主要有自然銀、輝銀礦、硫銅銀礦、銻銀礦、脆銀礦等。雖然銀的工業礦物不少，但它們卻很少富集成單的銀礦床，通常是以分散狀態分布在多金屬礦、銅礦及金礦中。銀產量的一半以上來自多金屬礦的綜合回收。

3）銀精礦
　　目前，銀和金含量的測定，主要采用經典的火試金重量法，一般都進行二次試金回收;銅含量的測定，高含量的采用碘量法，低含量的采用原子吸收光譜法;鉛和鋅的測定，高含量的采用EDTA滴定法，低含量的則采用原子吸收光譜法;砷含量的測定，采用溴酸鉀滴定法，低含量的采用原子熒光光譜法;硫含量的測定，采用硫酸鋇重量法和燃燒中和法;鉍含量的測定，主要是原子熒光光譜法;鋁的測定，有光度法和EDTA滴定法;鎂的測定，一般采用原子吸收光譜法。隨著科學技術的進步和發展，的分析測試手段和方法已應用到銀精礦的分析測定中，如ICP-AES、ICP-MS和XRF等方法。這些檢驗方法同樣也適用于粗銀和純銀的檢驗。
隨著電子工業的發展，厚膜導體漿料也隨之發生不斷更新的發展，作為二十一世紀主要發展方向之一的電子工業，其發展和產品更新速度也將是快的，新的電子元器件和生產工藝技術將需要新的銀粉銀漿，因此銀粉銀漿的品種和數量將不斷增加。
從技術的角度，為適應電子機器不斷輕、小、薄、多功能、低成本，銀粉銀漿會朝著使用工藝更簡化、性能更強、可靠性更高、更低成本化發展，也就是大程度的發揮銀導電性和導熱性的優勢。