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應(yīng)用優(yōu)勢
電鍍膜厚測試儀針對不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測試點分析；
軟件可分析5層25種元素鍍層；
通過軟件操作樣品移動平臺，實現(xiàn)不同測試點的測試需求；
配置高分辨率Si-PIN半導(dǎo)體探測器，實現(xiàn)對多鍍層樣品的分析；
內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶觀測樣品狀態(tài)；
高度激光敏感性傳感器保護測試窗口不被樣品撞擊。
江蘇天瑞儀器股份有限公司從事光譜（X熒光測厚儀、礦石分析儀、合金分析儀、ROHS分析儀，便攜式光譜儀、電感耦合等離子體**光譜儀ICP）、色譜、質(zhì)譜（氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀GCMS、液相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀LCMS、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀ICPMS）等分析測試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。 為電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、等眾多行業(yè)提供完善的行業(yè)整體解決方案。
鍍層樣品測試注意事項
先要確認(rèn)基材和各層鍍層金屬成分及鍍層元素次序，天瑞XRF熒光測厚儀多可以測5層金屬鍍層厚度 。
通過對鍍層基材的測定，確定基材中是否含有對鍍層元素特征譜線有影響的物質(zhì)，比如PCB印刷版基材中環(huán)氧樹脂中的Br 。
對于底材成分不是純元素的，并且同標(biāo)準(zhǔn)片底材元素含量不一致的，則需要進(jìn)行基材修正，選用樣品所相似的底材進(jìn)行曲線標(biāo)定 。
